对比试样校准机构询价咨询 北京纳克无损

对比试样校准原理

1. 复型测量法  一种间接的测量方法，通过将可塑性材料充满在人工缺陷内，经过凝固成型后取出，直观、形象、逼 真地再现人工缺陷的立体形貌，取点、线、断面采用相应精度的量具对人工缺陷长度、宽度、深度测量，获 得人工缺陷的尺寸数据。  

2. 显微测量法  直接通过读数显微镜对人工缺陷放大后，以光学成像或聚焦方法瞄准边缘轮廓或表面，通过X、Y、Z轴在缺陷上移动的距离直接测量人工槽的长度、宽度、深度及通孔的直径。

对比试样校准类型

1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

对比试样校准使用注意事项

1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。　　  

2.在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。　　  

3在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。　  

4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。